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Número da peça de fabricante | LAN02TA271J |
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Número da peça futura | FT-LAN02TA271J |
SPQ / MOQ | Contate-Nos |
Material de empacotamento | Reel/Tray/Tube/Others |
Series | LA, N Type |
LAN02TA271J Status (Ciclo de Vida) | Em estoque |
Status da Peça | Obsolete |
Tipo | - |
Material - Núcleo | - |
Indutância | 270µH |
Tolerância | ±5% |
Classificação atual | 70mA |
Atual - saturação | - |
Blindagem | Unshielded |
Resistência DC (DCR) | 16 Ohm Max |
Q @ Freq | 50 @ 796kHz |
Freqüência - auto-ressonante | 3.6MHz |
Classificações | - |
Temperatura de operação | -25°C ~ 105°C |
Frequência de Indutância - Teste | 796kHz |
Características | - |
Tipo de montagem | Through Hole |
Pacote / caso | Axial |
Pacote de Dispositivo do Fornecedor | Axial |
Tamanho / dimensão | 0.094" Dia x 0.142" L (2.40mm x 3.60mm) |
Altura - Sentado (Max) | - |
País de origem | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAN02TA271J Peso | Contate-Nos |
Número da peça de substituição | LAN02TA271J-FT |
LAL04TB150K
Taiyo Yuden
LAL04TB151K
Taiyo Yuden
LAL04TB180K
Taiyo Yuden
LAL04TB181K
Taiyo Yuden
LAL04TB1R0M
Taiyo Yuden
LAL04TB1R2M
Taiyo Yuden
LAL04TB1R5M
Taiyo Yuden
LAL04TB1R8M
Taiyo Yuden
LAL04TB220K
Taiyo Yuden
LAL04TB221K
Taiyo Yuden
XC3S500E-4VQG100I
Xilinx Inc.
A54SX32A-2TQG176I
Microsemi Corporation
M2GL025T-1FGG484
Microsemi Corporation
10AX032E3F29I2SG
Intel
EP4CGX22BF14C8N
Intel
EP4SE530H40I3N
Intel
5SGXEA4H2F35I2N
Intel
A40MX02-1PQ100M
Microsemi Corporation
LFEC10E-4F256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX130GF40C4NES
Intel