casa / produtos / Componentes eletrônicos / Peças de semicondutores / TEST2H2S04
Número da peça de fabricante | TEST2H2S04 |
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Número da peça futura | FT-TEST2H2S04 |
SPQ / MOQ | Contate-Nos |
Material de empacotamento | Reel/Tray/Tube/Others |
Series | TSSOP-28 |
TEST2H2S04 Status (Ciclo de Vida) | Em estoque |
Tipo | - |
Recursos | - |
Tensão - Alimentação | - |
Interface de dados | - |
Total de bits de RAM | - |
Número de E / S | - |
Capacitância | - |
Resistência | - |
Tolerância | - |
Tipo de montagem | SMD or Through Hole |
Temperatura de operação | Contact us |
Pacote / Caso | Original |
Tamanho / dimensão | - |
País de origem | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
TEST2H2S04 Peso | Contate-Nos |
Número da peça de substituição | TEST2H2S04-FT |
BD8651FV
Original
CA3238
Original
CDCV855PWR(P/B)
Original
CIT3503MYST18-28
Original
CIT3504MYST18-28
Original
CIT4303MYST18-28
Original
CIT4304MY
Original
CONTR
Original
CT-L21AT01-IT-BD
Original
CY2295FVC
Original
XC6SLX25-3FT256C
Xilinx Inc.
XC2VP40-6FGG676I
Xilinx Inc.
XC7S25-2FTGB196I
Xilinx Inc.
LFE5UM-25F-6BG381C
Lattice Semiconductor Corporation
EP3C10F256C6
Intel
5CGXFC4F6M11I7
Intel
XC6VHX380T-1FFG1155I
Xilinx Inc.
XC7A35T-1CS324I
Xilinx Inc.
XC7S50-1CSGA324C
Xilinx Inc.
ICE40HX8K-CM225
Lattice Semiconductor Corporation