casa / produtos / Sensores, Transdutores / Sensores Ópticos - Fototransistores / TEST2600
Número da peça de fabricante | TEST2600 |
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Número da peça futura | FT-TEST2600 |
SPQ / MOQ | Contate-Nos |
Material de empacotamento | Reel/Tray/Tube/Others |
Series | * |
TEST2600 Status (Ciclo de Vida) | Em estoque |
Status da Peça | Active |
Tensão - Colapso do Emissor Coletor (Max) | 70V |
Corrente - Coletor (Ic) (Max) | 50mA |
Corrente - Escuro (Id) (Max) | 100nA |
Comprimento de onda | 950nm |
Ângulo de visão | 120° |
Potência - Max | 100mW |
Tipo de montagem | Through Hole |
Orientação | Universal |
Temperatura de operação | -40°C ~ 85°C (TA) |
Pacote / caso | Radial, Side View |
País de origem | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
TEST2600 Peso | Contate-Nos |
Número da peça de substituição | TEST2600-FT |
VEMT3700-GS08
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2023X01
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2020X01
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2003X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7100X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7100ITX01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7000X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT6000X01
Vishay Semiconductor Opto Division
RPT-37PB3FN
Rohm Semiconductor
SML-810TBT86
Rohm Semiconductor
XC4010XL-3PQ100C
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A3P600-2FGG256
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M2GL010-1VF400
Microsemi Corporation
EP1S20F672I7N
Intel
EP4CE6F17C6
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5SGXEA5K3F40I3LN
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5SGXEA9K1H40C2L
Intel
XC4008E-4PC84I
Xilinx Inc.
LFE2M35E-7FN484C
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EP2AGX260FF35C4N
Intel