casa / produtos / Sensores, Transdutores / Sensores Ópticos - Fototransistores / TEST2600
Número da peça de fabricante | TEST2600 |
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Número da peça futura | FT-TEST2600 |
SPQ / MOQ | Contate-Nos |
Material de empacotamento | Reel/Tray/Tube/Others |
Series | * |
TEST2600 Status (Ciclo de Vida) | Em estoque |
Status da Peça | Active |
Tensão - Colapso do Emissor Coletor (Max) | 70V |
Corrente - Coletor (Ic) (Max) | 50mA |
Corrente - Escuro (Id) (Max) | 100nA |
Comprimento de onda | 950nm |
Ângulo de visão | 120° |
Potência - Max | 100mW |
Tipo de montagem | Through Hole |
Orientação | Universal |
Temperatura de operação | -40°C ~ 85°C (TA) |
Pacote / caso | Radial, Side View |
País de origem | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
TEST2600 Peso | Contate-Nos |
Número da peça de substituição | TEST2600-FT |
VEMT3700-GS08
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2023X01
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2020X01
Vishay Semiconductor Opto Division
VEMT2003X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7100X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7100ITX01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT7000X01
Vishay Semiconductor Opto Division
TEMT6000X01
Vishay Semiconductor Opto Division
RPT-37PB3FN
Rohm Semiconductor
SML-810TBT86
Rohm Semiconductor
LCMXO2-640HC-5SG48C
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XCS10XL-4TQ144C
Xilinx Inc.
AT40K20LV-3BQC
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APA600-FG484A
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A54SX32A-FG256I
Microsemi Corporation
A40MX04-1PL68M
Microsemi Corporation
AT40K10LV-3CQI
Microchip Technology
AGL030V2-QNG132
Microsemi Corporation
A40MX02-1PQG100M
Microsemi Corporation
LFE2-50SE-6F672I
Lattice Semiconductor Corporation