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Texas Instruments SN74BCT8374ANTG4

Número da peça MFG
SN74BCT8374ANTG4
Quantidade disponível
35120 Peças
Preço de referência
USD 0
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Data de envio
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fabricante
Texas Instruments
Descrição breve
74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Status sem chumbo / status RoHS
Compatível com RoHS (sem chumbo)
Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
1 (ilimitado)
Código da data (D / C)
Novo
Categoria de Produto
Lógica - Lógica Especializada
Recurso de estoque
Distribuidor Franqueado
garantia
Garantia de qualidade de 360 dias
Ficha de dados
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SN74BCT8374ANTG4 Especificações

Número da peça de fabricante SN74BCT8374ANTG4
Número da peça futura FT-SN74BCT8374ANTG4
SPQ / MOQ Contate-Nos
Material de empacotamento Reel/Tray/Tube/Others
Series 74BCT
SN74BCT8374ANTG4 Status (Ciclo de Vida) Em estoque
Status da Peça Obsolete
Tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
Número de bits 8
Temperatura de operação 0°C ~ 70°C
Tipo de montagem Through Hole
Pacote / caso 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor 24-PDIP
País de origem USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ANTG4 Peso Contate-Nos
Número da peça de substituição SN74BCT8374ANTG4-FT

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