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Texas Instruments SN74BCT8374ADW

Número da peça MFG
SN74BCT8374ADW
Quantidade disponível
98830 Peças
Preço de referência
USD 8.576
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Data de envio
Podemos enviar hoje
fabricante
Texas Instruments
Descrição breve
74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Status sem chumbo / status RoHS
Compatível com RoHS (sem chumbo)
Nível de sensibilidade à umidade (MSL)
1 (ilimitado)
Código da data (D / C)
Novo
Categoria de Produto
Lógica - Lógica Especializada
Recurso de estoque
Distribuidor Franqueado
garantia
Garantia de qualidade de 360 dias
Ficha de dados
SN74BCT8374ADW.pdf
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SN74BCT8374ADW Especificações

Número da peça de fabricante SN74BCT8374ADW
Número da peça futura FT-SN74BCT8374ADW
SPQ / MOQ Contate-Nos
Material de empacotamento Reel/Tray/Tube/Others
Series 74BCT
SN74BCT8374ADW Status (Ciclo de Vida) Em estoque
Status da Peça Active
Tipo de lógica Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação 4.5V ~ 5.5V
Número de bits 8
Temperatura de operação 0°C ~ 70°C
Tipo de montagem Surface Mount
Pacote / caso 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor 24-SOIC
País de origem USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADW Peso Contate-Nos
Número da peça de substituição SN74BCT8374ADW-FT

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