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Texas Instruments SN74BCT8374ADWR

Name: SN74BCT8374ADWR
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADWR
Availability: InStock
Rating: 4.7 (457 reviews)

Número da peça MFG: SN74BCT8374ADWR

Quantidade disponível: 16190 Peças

Preço de referência: USD 0

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Data de envio: Podemos enviar hoje

fabricante: Texas Instruments

Descrição breve: 74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Status sem chumbo / status RoHS: Compatível com RoHS (sem chumbo)

Nível de sensibilidade à umidade (MSL): 1 (ilimitado)

Código da data (D / C): Novo

Categoria de Produto: Lógica - Lógica Especializada

Recurso de estoque: Distribuidor Franqueado

garantia: Garantia de qualidade de 360 dias

Ficha de dados: SN74BCT8374ADWR.pdf

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SN74BCT8374ADWR Especificações

Número da peça de fabricante	SN74BCT8374ADWR
Número da peça futura	FT-SN74BCT8374ADWR
SPQ / MOQ	Contate-Nos
Material de empacotamento	Reel/Tray/Tube/Others
Series	74BCT
SN74BCT8374ADWR Status (Ciclo de Vida)	Em estoque
Status da Peça	Obsolete
Tipo de lógica	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensão de alimentação	4.5V ~ 5.5V
Número de bits	8
Temperatura de operação	0°C ~ 70°C
Tipo de montagem	Surface Mount
Pacote / caso	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacote de Dispositivo do Fornecedor	24-SOIC
País de origem	USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADWR Peso	Contate-Nos
Número da peça de substituição	SN74BCT8374ADWR-FT

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