casa / produtos / Circuitos Integrados (ICs) / Lógica - Lógica Especializada / SN74BCT8373ADWRE4
Número da peça de fabricante | SN74BCT8373ADWRE4 |
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Número da peça futura | FT-SN74BCT8373ADWRE4 |
SPQ / MOQ | Contate-Nos |
Material de empacotamento | Reel/Tray/Tube/Others |
Series | 74BCT |
SN74BCT8373ADWRE4 Status (Ciclo de Vida) | Em estoque |
Status da Peça | Obsolete |
Tipo de lógica | Scan Test Device with D-Type Latches |
Tensão de alimentação | 4.5V ~ 5.5V |
Número de bits | 8 |
Temperatura de operação | 0°C ~ 70°C |
Tipo de montagem | Surface Mount |
Pacote / caso | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Pacote de Dispositivo do Fornecedor | 24-SOIC |
País de origem | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ADWRE4 Peso | Contate-Nos |
Número da peça de substituição | SN74BCT8373ADWRE4-FT |
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVA16857AG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLF
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGT
IDT, Integrated Device Technology Inc